标签：测试优化

半导体测试是芯片生产的关键环节，良率提升直接影响成本和质量。本文分析测试中的核心挑战，如成本控制与覆盖不足，并探讨突破路径，包括技术创新和元器件应用，助力行业高效发展。 半导体测试的核心挑战 测试成本持续上升，主要源于芯片复杂性增加。这可能...