
陶瓷电容封装开裂难题:热应力分析与防护方案深度解剖
陶瓷电容在电子设备中无处不在,但当封装开裂时会发生什么?热应力往往是隐藏的罪魁祸首,这篇文章在电子元器件网深度剖析原因与防护方案,帮助工程师避免设备故障。 陶瓷电容封装开裂的原因 热应力是封装开裂的主要诱因,源于温度变化导致材料膨胀差异。介...
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你是否疑惑过:同样规格的电容器,在高温环境中寿命为何骤减?热应力正是隐藏的”元件杀手”。本文将深度剖析其作用机理,助您规避设计风险。 高温对电容器的三重威胁 温度升高直接加速元件内部材料的物理化学变化。热膨胀系数差异...