标签：测量自动化

传统电容测试为何效率低下且易受环境干扰？新型智能测试电路通过架构革新与算法优化，正为电子制造与维修领域带来突破性解决方案。 自动化测量系统的核心架构 闭环控制机制设计 现代智能测试系统采用闭环反馈控制原理。该架构实时采集测试信号，通过数字信...