电容测量数据的准确性直接影响电路设计可靠性。 未进行预检直接测试可能导致误差超30%(来源:IEEE)。以下三步关键检查流程,系统性保障测量精度。
一、电容物理状态检查
外观与结构完整性是测试基础,忽略此步可能使数据完全失效。
视觉检查要点
- 鼓包/漏液:电解电容顶部凸起或密封处渗出电解质
- 引脚氧化:金属引脚表面覆灰白/绿色氧化层
- 介质破裂:陶瓷电容表面裂纹或边缘缺损
 注意:物理损伤电容需直接更换,测量无意义! 
二、测试环境控制
温湿度波动会显著改变电容值,尤其对薄膜类电容。
环境校准规范
- 温度稳定:测试区温度变化≤±2℃(来源:IEC 60384)
- 湿度控制:相对湿度保持在40%-60%范围
- 静置时间:从不同温区移入的电容需静置30分钟
| 电容类型      | 温度敏感系数 |
|---------------|--------------|
| 电解电容      | 中           |
| 陶瓷电容(Ⅰ类) | 低           |
| 薄膜电容      | 高           |
三、测量仪器校准
60%的测量误差源于仪器设置问题(来源:Keysight白皮书)。
校准操作清单
- 开路/短路清零:
- 测试前执行开路补偿消除夹具电容
- 短路补偿消除引线电阻
- 测试频率选择:
- 大容量电解电容:优先100Hz-1kHz
- 高频陶瓷电容:建议1MHz以上
- 偏压施加规范:
- 钽电容测试需加额定电压10%偏置
- 陶瓷电容避免超过耐压50%
 关键提示:数字电桥需预热15分钟后再校准!

