电容在电路中扮演关键角色，但失效时如何快速诊断常见问题？本文聚焦三大类失效现象：击穿、漏液和容量衰减，提供实用指南帮助工程师提升排查效率。
电容击穿失效的诊断
电容击穿指内部介质被破坏，导致短路。这种现象可能引发电路完全瘫痪。
常见原因分析
- 过压冲击：超出额定电压导致介质崩溃。
- 介质缺陷：制造瑕疵或老化降低绝缘强度。
- 环境应力：高温或湿度加速性能劣化。
诊断时，使用LCR测试仪检查电容是否短路。若阻值接近零，则可能击穿。定期维护可预防此类问题。
电容漏液失效的诊断
漏液表现为电解液渗出，通常伴随腐蚀或异味。这会影响邻近元件稳定性。
识别迹象与方法
- 视觉检查：外壳变形或液体残留。
- 性能测试：电容值下降或等效串联电阻升高。
- 环境因素：高温或振动加速密封失效。
工程师应隔离故障电容，避免污染电路板。电子元器件网提供相关案例库供参考。
电容容量衰减失效的诊断
容量衰减指电容储能力下降，导致滤波或储能功能减弱。长期使用中常见。
检测与预防策略
| 方法 | 适用场景 |
|---|---|
| 电容测试仪 | 在线检测容量偏差 |
| 老化模拟 | 加速测试预测寿命 |
| 原因包括电解质干涸或电极退化。早期诊断可避免系统崩溃。 | |
| 掌握击穿、漏液和容量衰减的诊断方法，能显著减少电路故障。工程师应结合测试工具和定期检查，确保可靠性。电子元器件网整合行业资源，助力高效维护。 |
