标签：失效分析技术

解密半导体封装失效分析：降低故障率的实战策略

半导体封装失效直接影响电子设备的寿命与稳定性。本文从工程实践出发，剖析典型失效模式的核心成因，并提供可落地的预防策略，帮助工程师提升产品良率。一、封装失效的典型模式与检测手段分层（Delamination）是封装界面的致命伤，常发生于芯...