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共 4 篇文章

标签:寿命评估

钽电容可靠性测试:温度/电压/寿命评估关键要点

钽电容因其高容量密度和稳定性,成为精密电路的关键元件。其可靠性直接影响设备寿命,温度循环、电压应力和加速寿命测试构成评估体系的三大支柱。本文将深入解析这些测试的核心逻辑与实施要点。 温度应力测试 温度变化会引发材料热膨胀差异,导致内部结构应...

富士IGBT模块可靠性测试揭秘 | 关键参数与寿命评估

您是否好奇富士IGBT模块如何在高功率应用中维持长期稳定?本文将揭秘其可靠性测试的内幕,解析关键参数与寿命评估方法,为工程师提供实用洞察。 IGBT模块可靠性测试概述 可靠性测试是确保IGBT模块在极端条件下正常工作的基石。常见测试包括温度...

EFK电容老化测试报告:5000小时耐久性数据公开-电子元器件网

EFK电容老化测试报告:5000小时耐久性数据公开

电容的长期稳定性究竟如何衡量? 电子元器件网实验室近期完成了针对EFK系列电容器的专项老化测试,通过系统性数据为行业提供客观的可靠性参考。 老化测试的核心价值 加速老化测试是评估元件寿命的关键手段。通过模拟极端工况,可在较短时间内预测元件在...