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铝电解电容寿命预测：温度与电压衰减关系详解

铝电解电容的寿命是电子设备可靠性的关键指标，其核心衰减规律与工作温度、施加电压密切相关。理解这两大要素的相互作用，是预测电容寿命、优化电路设计的科学基础。温度：寿命的第一杀手温度升高会显著加速电解液蒸发和化学反应速率，这是电容失效的主因...

高温环境如何悄无声息地侵蚀电容器的寿命？准确预测关键元器件在严苛条件下的服役时间，是提升电子设备整体可靠性的核心挑战。高温工况对电容器的挑战热应力加速失效：温度升高会显著加快电容器内部的物理化学反应速率，导致介质材料退化、电解液蒸发或...