铝电解电容的寿命是电子设备可靠性的关键指标，其核心衰减规律与工作温度、施加电压密切相关。理解这两大要素的相互作用，是预测电容寿命、优化电路设计的科学基础。
温度：寿命的第一杀手
温度升高会显著加速电解液蒸发和化学反应速率，这是电容失效的主因。其影响程度可通过经典模型量化。
阿伦尼乌斯方程的应用
- 温度每升高10°C，寿命约缩短50% (来源：IEC 60384-4标准)
- 85°C下寿命为2000小时的电容，在95°C环境下寿命通常降至约1000小时
- 高温环境需选用高温品级电容（如105°C代替85°C）
关键提示： 实际寿命需考虑设备内部环境温度，而不仅是室温。
电压：不可忽视的加速因子
施加电压超过额定值(WV)，会增大漏电流并加速内部氧化膜劣化，形成恶性循环。
电压应力与寿命关系
- 工作电压低于额定电压是延长寿命的有效手段
- 长期承受过电压应力，即使幅度较小，也会显著缩短寿命
- 在纹波电流大的场景，需确保峰值电压不超过WV
| 电压应力水平 | 对寿命潜在影响 |
| :———– | :————- |
| 低于90% WV | 可能延长寿命 |
| 接近100% WV | 符合设计预期 |
| 持续>100% WV | 加速劣化风险高 |
综合预测与实际应用
工程中常采用寿命计算公式（如 Lx = Lo * 2^[(To-Tx)/10] * Kv）进行估算，其中：
* Lx：预测寿命
* Lo：额定温度下的标称寿命
* To, Tx：额定温度与实际工作温度
* Kv：电压降额系数（通常<1）
设计选型关键点
- 降额使用是核心策略：同时考虑温度和电压余量
- 关注纹波电流发热：它间接抬升核心温度
- 长寿命系列产品在高温、高压场景更具优势
铝电解电容的寿命预测本质是控制温度与电压应力。通过科学降额选型、优化散热设计，并理解其衰减规律，能大幅提升设备可靠性。定期检测电容ESR值变化是预判失效的有效手段。
