标签：检测革新

AI和机器学习正驱动半导体检测的革新，通过自动化分析图像和数据，提升效率和准确性。本文探讨机器学习如何解决传统检测的瓶颈，应用于电容器、传感器等元器件测试，并展望未来趋势。 半导体检测的传统挑战 半导体制造涉及高精度要求，传统检测方法通常依...