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共 25 篇文章

标签:高频电路设计 第2页

三星VS日系电容:高频特性与温度稳定性实测对比报告-电子元器件网

三星VS日系电容:高频特性与温度稳定性实测对比报告

高频电路中的电容选择难题 高频电路设计为何对电容性能要求苛刻?随着信号频率提升,等效串联电阻(ESR)和介质损耗直接影响信号完整性。在5G通信、高速数字电路中,如何平衡电容的高频特性与长期稳定性? 本文基于电子元器件网实验室实测数据,对比三...

COG电容的损耗角正切值:影响电路性能的核心指标-电子元器件网

COG电容的损耗角正切值:影响电路性能的核心指标

在高频电路设计中,COG电容因其稳定性备受青睐。但你是否思考过,决定其性能优劣的核心指标究竟是什么?答案可能藏在损耗角正切值(tanδ)这一参数中。 损耗角正切值的物理意义 能量损耗的量化表达 损耗角正切值直接反映电容器能量损耗效率,其数值...

X7R电容深度解析:从介电特性到高频应用的全面突破-电子元器件网

X7R电容深度解析:从介电特性到高频应用的全面突破

为何现代高频电路设计中,X7R介质电容成为工程师的首选? 这种特殊的陶瓷电容器凭借独特的材料特性,正在改变电源管理、信号处理等关键领域的元器件选型策略。 一、介质材料的科学密码 1.1 温度稳定性的奥秘 钛酸钡基陶瓷材料的改性工艺赋予X7R...

电容容值进阶指南:高频/高压场景下的特殊考量-电子元器件网

电容容值进阶指南:高频/高压场景下的特殊考量

普通电容能否直接用于高频电路?高压环境下如何避免击穿风险? 当电子系统进入GHz频段或千伏级电压时,介质损耗和绝缘强度将颠覆传统选型逻辑。本文揭示特殊场景下的容值计算法则与材质匹配策略。 高频场景的三大隐形杀手 介质损耗引发温升失控 高频电...

高频电路中吸收电容选型技巧与误区剖析-电子元器件网

高频电路中吸收电容选型技巧与误区剖析

为什么精心设计的电路总被高频噪声干扰? 在高频电路设计中,吸收电容的选型直接影响信号完整性和系统稳定性。然而,许多工程师因忽略关键参数匹配或陷入认知误区,导致电路性能未达预期。本文从实际应用场景出发,剖析选型核心逻辑与典型错误。 一、吸收电...