为何温度变化会让Y电容性能“飘移”?
当开关电源遭遇极端工作环境,Y电容的容值稳定性直接决定EMI滤波效果。温度波动引发的介质极化特性改变,是容值漂移的核心诱因。
电子元器件网实测数据显示:在典型工业温度区间内,特定介质类型的Y电容容值波动幅度可达初始值的数倍(来源:电子元器件网实验室,2023)。这种非线性变化可能导致:
– EMI滤波频点偏移
– 安规认证失效风险上升
– 高频噪声抑制能力下降
当开关电源遭遇极端工作环境,Y电容的容值稳定性直接决定EMI滤波效果。温度波动引发的介质极化特性改变,是容值漂移的核心诱因。
电子元器件网实测数据显示:在典型工业温度区间内,特定介质类型的Y电容容值波动幅度可达初始值的数倍(来源:电子元器件网实验室,2023)。这种非线性变化可能导致:
– EMI滤波频点偏移
– 安规认证失效风险上升
– 高频噪声抑制能力下降